METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Low-temperature rapid thermal CVD of nanocrystalline graphene on Cu thin films / Croin, Luca; Vittone, Ettore; Amato, Giampiero. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC RESEARCH. - ISSN 0370-1972. - 251:12(2014), pp. 2515-2520. [10.1002/pssb.201451219] 2014 AMATO, GIAMPIERO + -
Optical and Structural-Properties of Amorphous-Silicon Obtained by Low-Pressure Chemical Vapor-Deposition / Amato, Giampiero; G, Fizzotti; F, Manfredotti; C, Menna; P, Nobile; G, Spagnolo. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC RESEARCH. - ISSN 0370-1972. - 170:(1992), pp. 119-128. 1992 AMATO, GIAMPIERO + -
Pump and probe techniques for spin-lattice thermalization measurements: thermal requirements / Callegaro, Luca; Puppin, E.. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC RESEARCH. - ISSN 0370-1972. - 185 (oct):(1994), pp. 481-484. 1994 CALLEGARO, LUCA + -
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