METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Quantum Conductance in Memristive Devices: Fundamentals, Developments, and Applications / Milano, Gianluca; Aono, Masakazu; Boarino, Luca; Celano, Umberto; Hasegawa, Tsuyoshi; Kozicki, Michael; Majumdar, Sayani; Menghini, Mariela; Miranda, Enrique; Ricciardi, Carlo; Tappertzhofen, Stefan; Terabe, Kazuya; Valov, Ilia. - In: ADVANCED MATERIALS. - ISSN 0935-9648. - 34:32(2022), pp. 2201248-1-2201248-30. [10.1002/adma.202201248] 2022 Milano, GianlucaBoarino, Luca + Advanced Materials - 2022 - Milano - Quantum Conductance in Memristive Devices Fundamentals Developments and.pdf
Submicrometer functionalization of porous silicon by electron beam lithography / Rocchia, M; Borini, S; Rossi, A. M; Boarino, L; Amato, Giampiero. - In: ADVANCED MATERIALS. - ISSN 0935-9648. - 15:(2003), pp. 1465-1469. [10.1002/adma.200304919] 2003 ROSSI, A. MBOARINO, LAMATO, GIAMPIERO + -
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