METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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E-beam evaporated ZnO thin films: Fabrication and characterization as UV detector / Portesi, Chiara; Lolli, L; Taralli, Emanuele; Rajteri, Mauro; Monticone, Eugenio. - In: THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL PLUS. - ISSN 2190-5444. - 130:3(2015). [10.1140/epjp/i2015-15045-1] 2015 PORTESI, CHIARATARALLI, EMANUELERAJTERI, MAUROMONTICONE, EUGENIO + epjp1300449-offprints.pdf; EPJP-S-13-00489.pdf
Focus Point on Complex Photonics Measurements, Theory and Simulations for Extreme Light-Matter Interactions / Pattelli, L; Wiersma, D; Brongersma, M; Capasso, F. - In: THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL PLUS. - ISSN 2190-5444. - 133:(2018). [10.1140/epjp/i2018-11952-9] 2018 Pattelli, LWiersma, D + Pattelli2018_Article_FocusPointOnComplexPhotonics.pdf
Impedance measurements for photon number resolving Transition-Edge Sensors / Taralli, Emanuele; Portesi, Chiara; Lolli, L; Rajteri, Mauro; Monticone, Eugenio; Novikov, I; Beyer, J.. - In: THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL PLUS. - ISSN 2190-5444. - 127:2(2012), pp. 13-20. [10.1140/epjp/i2012-12013-3] 2012 TARALLI, EMANUELEPORTESI, CHIARARAJTERI, MAUROMONTICONE, EUGENIO + -
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