METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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ZnO thick films for NO2 detection: effect of different nanostructures on the sensors’ performances / Ziegler, Daniele; Marchisio, Andrea; Palmero, Paola; Pugliese, Diego; Cauda, Valentina; Tulliani, Jean-Marc. - In: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE. MATERIALS IN ELECTRONICS. - ISSN 0957-4522. - 30:24(2019), pp. 20958-20969. [10.1007/s10854-019-02463-x] 2019 Diego Pugliese + ZnO thick films for NO2 detection_Effect of different nanostructures on the sensors’ performances.pdf; ZnO Pugliese.pdf
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