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Suspended DNA structural characterization by TEM diffraction / Marini, M.; Allione, M.; Lopatin, S.; Moretti, M.; Giugni, A.; Torre, B.; di Fabrizio, E.. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 187-188:(2018), pp. 39-42. [10.1016/j.mee.2017.11.020] 2018 Marini, M.Torre, B.di Fabrizio, E. + 1-s2.0-S0167931717303969-main.pdf
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