METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
TRACEFARAD: Establishment of a traceability chain to realize the farad from the dc quantum Hall effect with digitally assisted bridges / D'Elia, V; Trinchera, BRUNO OTTAVIO; Callegaro, Luca; Serazio, D; Francone, F.. - (2014). 2014 TRINCHERA, BRUNO OTTAVIOCALLEGARO, LUCASerazio D + -
Un metodo di calibrazione di divisori di tensione induttiva per confronto e lettura diretta / Chiti, F; Callegaro, Luca; Bosco, G. C.. - (2000), pp. ---. 2000 CALLEGARO, LUCA + -
Un sistema di taratura di misuratori di correnti continue nel campo 100 fA - 100 pA / D'Elia, V; Callegaro, Luca. - (2008), pp. ---. 2008 CALLEGARO, LUCA + -
Water level sensing by electrical impedance measurements / Callegaro, Luca; Durbiano, F.. - (2004), pp. 1-10. 2004 CALLEGARO, LUCADURBIANO F. -
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Tipologia
  • 5 Altro 24
  • 5 Altro::5.12 Altro 22
  • 5 Altro::5.14 Rapporto tecnico 2
Autore
  • CAPRA, PIER PAOLO 6
  • DURBIANO, FRANCESCA 6
  • CASSIAGO, CRISTINA 5
  • SERAZIO, DANILO 5
  • GASPAROTTO, ENRICO 3
  • TRINCHERA, BRUNO OTTAVIO 3
  • D'ELIA, VINCENZO 2
  • GALLIANA, FLAVIO 2
  • AGOSTO, ANDREA 1
  • BASSO, VITTORIO 1
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 4
  • 2010 - 2019 3
  • 2000 - 2009 13
  • 1997 - 1999 4
Keyword
  • Atomic Sensors 1
  • Metrology for Quantum technologies 1
  • Metrology Service Portfolio 1
  • Quantum Clocks 1
  • Quantum Electronics 1
  • Quantum Metrology 1
  • Quantum Photonics 1
  • Standardisation 1
Lingua
  • eng 15
  • ita 9
Accesso al fulltext
  • no fulltext 21
  • reserved 2
  • restricted 1