RicercaInizia una nuova ricerca

NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

cerca in
Risultati 141 - 141 di 141 (tempo di esecuzione: 0.002 secondi).
Citazione Data di pubblicazione Autori File
Why always seek the expected value? A discussion relating to the Lp norm / Callegaro, Luca; Pennecchi, FRANCESCA ROMANA. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 44:6(2007), pp. L68-L70. [10.1088/0026-1394/44/6/N05] 2007 CALLEGARO, LUCAPENNECCHI, FRANCESCA ROMANA -
Risultati 141 - 141 di 141 (tempo di esecuzione: 0.002 secondi).
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile

Aggiungere filtri:  
Aggiungi
Opzioni
Scopri
Tipologia
  • 1 Contributo su Rivista 141
  • 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 141
Autore
  • D'ELIA, VINCENZO 19
  • CULTRERA, ALESSANDRO 16
  • MARZANO, MARTINA 15
  • TRINCHERA, BRUNO OTTAVIO 10
  • CASSIAGO, CRISTINA 9
  • ORTOLANO, MASSIMO 9
  • PISANI, MARCO 9
  • SERAZIO, DANILO 8
  • ENRICO, EMANUELE 7
  • BASSO, VITTORIO 6
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 32
  • 2010 - 2019 34
  • 2000 - 2009 47
  • 1990 - 1999 26
  • 1985 - 1989 2
Editore
  • IEEE 12
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 4
  • IOP 4
  • IEEE / Institute of Electrical an... 3
  • Nature Publishing Group 3
  • A&T sas 2
  • BIPM & IOP 2
  • MDPI 2
  • AMER INST PHYSICS 1
  • AMER PHYSICAL SOC 1
Rivista
  • IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTAT... 36
  • METROLOGIA 17
  • TUTTO MISURE 12
  • MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY 11
  • REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 7
  • APPLIED PHYSICS LETTERS 5
  • IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS 5
  • JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC... 4
  • IEEE INSTRUMENTATION & MEASUREMEN... 3
  • IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPE... 3
Keyword
  • Metrology 5
  • Calibration 4
  • calibration 4
  • Standards 4
  • graphene 3
  • metrology 3
  • Uncertainty 3
  • Bridge circuits 2
  • Capacitance 2
  • capacitance 2
Lingua
  • eng 119
  • ita 16
  • und 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 89
  • open 25
  • partially open 18
  • restricted 5
  • reserved 4