Electric Properties Tomography via Green’s Integral Identity / Zilberti, Luca; Bottauscio, Oriano; Zanovello, Umberto; Arduino, Alessandro. - (2023), pp. 49-50. (Intervento presentato al convegno ENBIS and EMN Mathmet Joint Workshop Mathematical and Statistical Methods for Metrology tenutosi a Torino nel 30-31 maggio 2023).
Electric Properties Tomography via Green’s Integral Identity
Zilberti Luca
;Bottauscio Oriano;Zanovello Umberto;Arduino Alessandro
2023
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