METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

Characterizing background photons and dark counts in real field TF-QKD setup / Virzi', Salvatore; Meda, Alice; Clivati, Cecilia; Donadello, Simone; Liorni, Carlo; Bertaina, Gianluca; Gramegna, Marco; Degiovanni, Ivo Pietro; Dispenza, Massimiliano; Genovese, Marco; Calonico, Davide. - 12570:125700E(2023). (Intervento presentato al convegno SPIE Optics + Optoelectronics tenutosi a Prague, Czech Republic nel 24-28 April 2023) [10.1117/12.2669073].

Characterizing background photons and dark counts in real field TF-QKD setup

Virzi', Salvatore;Meda, Alice;Clivati, Cecilia;Donadello, Simone;Bertaina, Gianluca;Gramegna, Marco;Degiovanni, Ivo Pietro;Genovese, Marco;Calonico, Davide
2023
2023
SPIE Optics + Optoelectronics
24-28 April 2023
Prague, Czech Republic
none
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