METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente.
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EnglishA Bayesian model for count data affected by false positives and false negatives / Pennecchi, F.; Bich, W.; Carota, C.; D’Agostino, G.; Di Luzio, M.; Nava, C. R.; Ricci, A. - (2016).
| Titolo: | A Bayesian model for count data affected by false positives and false negatives |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2016 |
| Citazione: | A Bayesian model for count data affected by false positives and false negatives / Pennecchi, F.; Bich, W.; Carota, C.; D’Agostino, G.; Di Luzio, M.; Nava, C. R.; Ricci, A. - (2016). |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11696/54239 |
| Appare nelle tipologie: | 5.12 Altro |
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