"Multidimensional reflectometry for industry" (xD-Reflect) an European research project / Höpe, Andreas; Koo, Annette; Verdu, Francisco M.; Leloup, Frédéric B.; Obein, Gaël; Wübbeler, Gerd; Campos, Joaquín; Iacomussi, Paola; Jaanson, Priit; Källberg, Stefan; Šmíd, Marek. - 9018:(2014), p. 901804. (Intervento presentato al convegno IS & T Electronic Imaging and SPIE tenutosi a San Francisco nel 24-27 febbraio 2014) [10.1117/12.2035981].

"Multidimensional reflectometry for industry" (xD-Reflect) an European research project

IACOMUSSI, PAOLA;
2014

2014
IS & T Electronic Imaging and SPIE
24-27 febbraio 2014
San Francisco
none
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