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English"Multidimensional reflectometry for industry" (xD-Reflect) an European research project / Höpe, Andreas; Koo, Annette; Verdu, Francisco M.; Leloup, Frédéric B.; Obein, Gaël; Wübbeler, Gerd; Campos, Joaquín; Iacomussi, Paola; Jaanson, Priit; Källberg, Stefan; Šmíd, Marek. - 9018(2014), p. 901804. ((Intervento presentato al convegno IS & T Electronic Imaging and SPIE tenutosi a San Francisco nel 24-27 febbraio 2014.
| Titolo: | "Multidimensional reflectometry for industry" (xD-Reflect) an European research project |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2014 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11696/50891 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11696/50891
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