METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

Key Comparison CCQM-K36: Electrolytic conductivity at 0.5 and 0.005 S/m, IEN Measurement Report / Durbiano, Francesca; Callegaro, Luca; Capra, PIER PAOLO; D'Elia, V.. - (2005), pp. 1-10.

Key Comparison CCQM-K36: Electrolytic conductivity at 0.5 and 0.005 S/m, IEN Measurement Report

DURBIANO, FRANCESCA;CALLEGARO, LUCA;CAPRA, PIER PAOLO;
2005
2005
Key Comparison CCQM-K36: Electrolytic conductivity at 0.5 and 0.005 S/m, IEN Measurement Report / Durbiano, Francesca; Callegaro, Luca; Capra, PIER PAOLO; D'Elia, V.. - (2005), pp. 1-10.
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