Applications of a 3D BEM model for predicting stray capacitance in high voltage measuring devices / Bottauscio, Oriano; Chiampi, M; Saracco, O; Sardi, Angelo; Zucca, Mauro. - (1998), pp. 145-154. ( 2nd Eurobem Southampton (UK) 1998).
Applications of a 3D BEM model for predicting stray capacitance in high voltage measuring devices
BOTTAUSCIO, ORIANO;SARDI, ANGELO;ZUCCA, MAURO
1998
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