Applications of a 3D BEM model for predicting stray capacitance in high voltage measuring devices / Bottauscio, O., Chiampi, M., Saracco, O., Sardi, A., Zucca, M.. - (1998), pp. 145-154. (2nd Eurobem Southampton (UK) 1998).
Applications of a 3D BEM model for predicting stray capacitance in high voltage measuring devices
BOTTAUSCIO, ORIANO;SARDI, ANGELO;ZUCCA, MAURO
1998
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