A high resistance measurement setup for MOS sensing materials characterization / Capra, P.P., Galliana, F., M., L., A., B., N., D., G., N.. - 268:(2013), pp. 149-154. (17TH AISEM ANNUAL CONFERENCE ).
A high resistance measurement setup for MOS sensing materials characterization .
CAPRA, PIER PAOLO;GALLIANA, FLAVIO;
2013
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