METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

Positioning control of large objects with subnanometric accuracy / F., B., Mana, G., P., C., M., Z., Bisi, M., F., P., S., C., E., C., F., D.. - (1999), pp. 15-20. (ODIMAP II – 2nd Topical Meeting on Optoelectronic Distance Measurements and Applications Pavia 20-22 maggio 1999).

Positioning control of large objects with subnanometric accuracy

MANA, GIOVANNI;BISI, MARCO;
1999
1999
ODIMAP II – 2nd Topical Meeting on Optoelectronic Distance Measurements and Applications
20-22 maggio 1999
Pavia
none
4.1 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11696/31859
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact