Sub-nanometric Metrology for High Resolution Astrometric Interferometry / Bisi, M., F., A., F., B., P., C., G., G., Mana, G., M., Z.. - (1998), pp. 339-341. (1998 Conference on Precision Electromagnetic Measurements Gaithersburg, Maryland, USA July 6-10, 1998).

Sub-nanometric Metrology for High Resolution Astrometric Interferometry

BISI, MARCO;MANA, GIOVANNI;
1998

1998
1998 Conference on Precision Electromagnetic Measurements
July 6-10, 1998
Gaithersburg, Maryland, USA
none
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