Impact of Delay Line Uncertainties on THz TDS Measurements / Jahn D; Lippert S; Oberto L; Bisi M; Koch M. - (2015). ((Intervento presentato al convegno 2nd Annual Conference of COST Action MP1204 & International Conference on Semiconductor Mid-IR Materials and Optics SMMO2014 tenutosi a Marburg - Germany nel 26/02 - 1/03/2014.

Impact of Delay Line Uncertainties on THz TDS Measurements

OBERTO, LUCA;BISI, MARCO;
2015

2nd Annual Conference of COST Action MP1204 & International Conference on Semiconductor Mid-IR Materials and Optics SMMO2014
26/02 - 1/03/2014
Marburg - Germany
none
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11696/30734
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact