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Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
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Combined optical and X-ray interferometry for high-precision dimensional metrology / Basile, G; Becker, P; Bergamin, A; Cavagnero, G; Franks, A; Jackson, K; Kuetgens, U; Mana, Giovanni; Palmer, Ew; Robbie, Cj; Stedman, M; Stumpel, J; Yacoot, A; Zosi, G.. - In: PROCEEDINGS OF THE ROYAL SOCIETY OF LONDON. SERIES A. - ISSN 1364-5021. - 456:1995(2000), pp. 701-729. [10.1098/rspa.2000.0536] | 2000 | MANA, GIOVANNI + | - |
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