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A scanning tunnelling microscope device having interferometric and/or capacitance-based control of displacements
1997 Desogus, S.; Lanyi, S; Nerino, R.; Picotto, {. G. B. }.; Pisani, Marco; Sosso, Andrea
Fourier Transform Based Hyperspectral Imaging
2011 Pisani, Marco; Zucco, Massimo
Fourier Transform Hyperspectral Imaging for Cultural Heritage
2017 Zucco, Massimo; Pisani, Marco; Cavaleri, Tiziana
Interferometric measurements at the picometer scale
2013 Pisani, Marco
Nanometrology at the IMGC
2005 Bisi, Marco; Massa, Enrico; Pasquini, A.; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco
STM tips fabrication for critical dimension measurement
2005 Pasquini, A. .; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| A scanning tunnelling microscope device having interferometric and/or capacitance-based control of displacements / Desogus, S.; Lanyi, S; Nerino, R.; Picotto, {. G. B. }.; Pisani, Marco; Sosso, Andrea. - (1997). | 1997 | PISANI, MARCOSOSSO, ANDREA + | - |
| Fourier Transform Based Hyperspectral Imaging / Pisani, Marco; Zucco, Massimo. - (2011), pp. 427-446. | 2011 | PISANI, MARCOZUCCO, MASSIMO | - |
| Fourier Transform Hyperspectral Imaging for Cultural Heritage / Zucco, Massimo; Pisani, Marco; Cavaleri, Tiziana. - (2017). [10.5772/66107] | 2017 | ZUCCO, MASSIMOPISANI, MARCO + | - |
| Interferometric measurements at the picometer scale / Pisani, Marco. - (2013). | 2013 | PISANI, MARCO | - |
| Nanometrology at the IMGC / Bisi, Marco; Massa, Enrico; Pasquini, A.; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - (2005), pp. 22-37. [10.1002/3527606661.ch2] | 2005 | BISI, MARCOMASSA, ENRICOPICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + | - |
| STM tips fabrication for critical dimension measurement / Pasquini, A. .; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - 186:(2005), pp. 357-362. [10.1007/1-4020-3019-3] | 2005 | PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + | - |
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Tipologia
- 2 Contributo in Volume 6
- 2 Contributo in Volume::2.1 Capit... 6
Data di pubblicazione
- 2010 - 2017 3
- 2000 - 2009 2
- 1997 - 1999 1
Editore
- InTech - Open Access Publisher 1
- Kluver Academic Publishers 1
- Taylor&Francis Group/CRC Press 1
- Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA 1
Keyword
- interferometry 1
- nanometrology 1
Lingua
- eng 4
Accesso al fulltext
- no fulltext 6