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"Stochastic drift models for the determination of calibration intervals"
1997 Tavella, Patrizia; A., Bobbio; S., Costamagna; A., Montefusco
A capacitive displacement measurement system for scanning probe microscopy
1996 Picotto, {. G. B. }.; Desogus, S.; Lanyi, S.; Nerino, R.; Sosso, Andrea; Monticone, Eugenio
A scanning tunnelling microscope device having interferometric and/or capacitance-based control of displacements
1997 Desogus, S.; Lanyi, S; Nerino, R.; Picotto, {. G. B. }.; Pisani, Marco; Sosso, Andrea
An AC current source for capacitance-based displacement measurements
1996 Nerino, R; Sosso, Andrea; Picotto, G. B.
An STM having integrated capacitive sensors for calibration of scanner displacements
1995 Picotto, {. G. B. }.; Desogus, S.; L\'{a}nyi, \v{s}; Nerino, R.; Sosso, Andrea
An STM piezo-scanner with tip displacement measurement capability
1994 Desogus, S.; L\'{a}nyi, \v{s}; Nerino, R.; Picotto, {. G. B. }.; Sosso, Andrea
Applications of a 3D BEM model for predicting stray capacitance in high voltage measuring devices
1998 Bottauscio, Oriano; Chiampi, M; Saracco, O; Sardi, Angelo; Zucca, Mauro
Development and Applications of PVD Processes to Cutting Tools
1993 R., Chiara; D'Errico, GIAMPAOLO EUGENIO; F., Rabezzana
Domain wall multiplication in amorphous ferromagnetic alloys
1992 Beatrice, Cinzia; P., Mazzetti; Vinai, Franco
Fractal properties and scaling exponents of the Barkhausen effect
1995 Durin, Gianfranco; Magni, Alessandro
Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
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"Stochastic drift models for the determination of calibration intervals" / Tavella, Patrizia; A., Bobbio; S., Costamagna; A., Montefusco. - 45:(1997), pp. 232-238. | 1997 | TAVELLA, PATRIZIA + | - |
A capacitive displacement measurement system for scanning probe microscopy / Picotto, {. G. B. }.; Desogus, S.; Lanyi, S.; Nerino, R.; Sosso, Andrea; Monticone, Eugenio. - (1996). | 1996 | SOSSO, ANDREAMONTICONE, EUGENIO + | - |
A scanning tunnelling microscope device having interferometric and/or capacitance-based control of displacements / Desogus, S.; Lanyi, S; Nerino, R.; Picotto, {. G. B. }.; Pisani, Marco; Sosso, Andrea. - (1997). | 1997 | PISANI, MARCOSOSSO, ANDREA + | - |
An AC current source for capacitance-based displacement measurements / Nerino, R; Sosso, Andrea; Picotto, G. B.. - (1996), p. 415-416. | 1996 | SOSSO, ANDREA + | - |
An STM having integrated capacitive sensors for calibration of scanner displacements / Picotto, {. G. B. }.; Desogus, S.; L\'{a}nyi, \v{s}; Nerino, R.; Sosso, Andrea. - (1995). | 1995 | SOSSO, ANDREA + | - |
An STM piezo-scanner with tip displacement measurement capability / Desogus, S.; L\'{a}nyi, \v{s}; Nerino, R.; Picotto, {. G. B. }.; Sosso, Andrea. - (1994). | 1994 | SOSSO, ANDREA + | - |
Applications of a 3D BEM model for predicting stray capacitance in high voltage measuring devices / Bottauscio, Oriano; Chiampi, M; Saracco, O; Sardi, Angelo; Zucca, Mauro. - (1998), pp. 145-154. | 1998 | BOTTAUSCIO, ORIANOSARDI, ANGELOZUCCA, MAURO + | - |
Development and Applications of PVD Processes to Cutting Tools / R., Chiara; D'Errico, GIAMPAOLO EUGENIO; F., Rabezzana. - 2:(1993), pp. 245-255. | 1993 | D'ERRICO, GIAMPAOLO EUGENIO + | - |
Domain wall multiplication in amorphous ferromagnetic alloys / Beatrice, Cinzia; P., Mazzetti; Vinai, Franco. - (1992), pp. 275-278. | 1992 | BEATRICE, CINZIAVINAI, FRANCO + | - |
Fractal properties and scaling exponents of the Barkhausen effect / Durin, Gianfranco; Magni, Alessandro. - (1995). | 1995 | DURIN, GIANFRANCOMAGNI, ALESSANDRO | - |
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Data di pubblicazione
- 1999 2
- 1998 3
- 1997 6
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- 1995 4
- 1994 2
- 1993 1
- 1992 2
- 1990 1
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