METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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A DISPLACEMENT AND ANGLE INTERFEROMETER WITH SUBATOMIC RESOLUTION / Bergamin, A; Cavagnero, G; Mana, Giovanni. - In: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS. - ISSN 0034-6748. - 64:11(1993), pp. 3076-3081. [10.1063/1.1144362] 1993 MANA, GIOVANNI + -
A finite element analysis of surface-stress effects on measurement of the Si lattice parameter / Quagliotti, D; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; Sasso, CARLO PAOLO; Kuetgens, U.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 50:3(2013), pp. 243-248. [10.1088/0026-1394/50/3/243] 2013 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICOSASSO, CARLO PAOLO + -
A Fizeau interferometer for astrometry in space: the metrology point of view / Gai, M; Lattanzi, Mg; Mana, Giovanni. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 10:12(1999), pp. 1254-1260. [10.1088/0957-0233/10/12/318] 1999 MANA, GIOVANNI + -
A Fourier optics approach to the dynamical theory of X-ray diffraction - perfect crystals / Mana, Giovanni; Montanari, F.. - In: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS OF CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0108-7673. - 60:(2004), pp. 40-50. [10.1107/S0108767303022815] 2004 MANA, GIOVANNI + -
A Fourier optics approach to the dynamical theory of X-ray diffraction – continuously deformed crystals / Mana, Giovanni; Palmisano, C.. - In: ACTA CRYSTALLOGRAPHICA. SECTION A, FOUNDATIONS OF CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0108-7673. - A60:(2004), pp. 283-293. 2004 MANA, GIOVANNI + -
A Fourier optics model of two-beam scanning laser interferometers / Bergamin, A; Cavagnero, G; Cordiali, L; Mana, Giovanni. - In: THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. D, ATOMIC, MOLECULAR AND OPTICAL PHYSICS. - ISSN 1434-6060. - 5:3(1999), pp. 433-440. [10.1007/s100530050275] 1999 MANA, GIOVANNI + -
A More Accurate Measurement of the Si-28 Lattice Parameter / Massa, Enrico; Sasso, CARLO PAOLO; Mana, Giovanni; Palmisano, C.. - In: JOURNAL OF PHYSICAL AND CHEMICAL REFERENCE DATA. - ISSN 0047-2689. - 44:3(2015), p. 031208. [10.1063/1.4917488] 2015 MASSA, ENRICOSASSO, CARLO PAOLOMANA, GIOVANNI + 2015_d220_AIP.pdf
A new analysis for diffraction correction in optical interferometry / Mana, G; Massa, E; Sasso, C. P; Andreas, B; Kuetgens, U.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 54:4(2017), pp. 559-565. [10.1088/1681-7575/aa76af] 2017 Mana, GMassa, ESasso, C. P + 2017 Metrologia diffraction correction.pdf
A NEW DETERMINATION OF N-A / Basile, G; Becker, P; Bergamin, A; Bettin, H; Cavagnero, G; Debievre, P; Kutgens, U; Mana, Giovanni; Mosca, M; Pajot, B; Panciera, R; Pasin, W; Pettorruso, S; Peuto, A; Sacconi, A; Stumpel, J; Valkiers, S; Vittone, E; Zosi, G.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 44:2(1995), pp. 538-541. [10.1109/19.377901] 1995 MANA, GIOVANNI + -
A new low-uncertainty measurement of the31Si half-life / D'Agostino, Giancarlo; Di Luzio, M; Mana, Giovanni; Oddone, M.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 54:3(2017), pp. 410-416. [10.1088/1681-7575/aa6edf] 2017 D'AGOSTINO, GIANCARLODi Luzio, MMANA, GIOVANNI + dagostino_et_al.pdf; 2017 dagostino halflife.pdf
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  • MASSA, ENRICO 56
  • SASSO, CARLO PAOLO 27
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  • PENNECCHI, FRANCESCA ROMANA 4
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  • LEVI, FILIPPO 2
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 14
  • 2010 - 2019 61
  • 2000 - 2009 40
  • 1990 - 1999 27
  • 1986 - 1989 5
Editore
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Rivista
  • METROLOGIA 54
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