METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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- Nuovi campioni e sistemi di misura elettrici di alto livello per applicazioni metrologiche e per confronti di misura interlaboratorio / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Cerri, Roberto; Lanzillotti, Marco; Roncaglione, Luca. - (2016). (Intervento presentato al convegno AFFIDABILITA' E TECNOLOGIE 2016 tenutosi a TORINO nel APRILE 2016). 2016 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIO + -
1 ohm –10 kohm high accuracy standard setup for calibration of multifunction electrical instruments / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Serazio, D; Lanzillotti, M.. - (2013). [http://dx doi org/10 1051/metrology/201311006] 2013 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIOSerazio d + -
1 ohm –10 kohm High Precision Resistance Setup to calibrate Multifunction Electrical instruments / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Lanzillotti, M.. - (2014), pp. 945-949. 2014 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIO + -
1 Ω–10 kΩ high precision Resistance Setup to calibrate multifunction electrical instruments / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; M., Lanzillotti. - (2014), pp. 945-949. (Intervento presentato al convegno 20th IMEKO TC-4 International Symposium Measurement of Electrical Quantities"Research on Electrical and Electronic Measurement for the Economic Upturn" 18th TC-4 Workshop on ADC and DAC Modelling and Testing tenutosi a BENEVENTO ITALY nel September 15 - 17, 2014). 2014 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIO + -
1  AND 10 k HIGH PRECISION TRANSPORTABLE SETUP TO CALIBRATE MULTIFUNCTION ELECTRICAL INSTRUMENTS / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio. - In: MEASUREMENT. - ISSN 0263-2241. - 82:(2016), pp. 967-974. [doi:10.1016/j.measurement.2015.11.045] 2016 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIO MEAS_82.pdf; art_setup_rev_3final1 (1).pdf
1 –10 k high accuracy standard setup for calibration of multifunction electrical instruments / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; Serazio, D.; Lanzillotti, M.. - (2013). (Intervento presentato al convegno 16th INTERNATIONAL METROLOGY CONGRESS metrologie 2013 tenutosi a PARIS nel october 2013) [http://dx.doi.org/10.1051/metrology/201311006]. 2013 CAPRA, PIER PAOLOGALLIANA, FLAVIOD. Serazio + -
10 V, 1 Ω, 10 kΩ high accuracy standard setup for calibration of multifunction electrical instruments and for inter-laboratory comparisons / Capra, PIER PAOLO; Cerri, Roberto; Galliana, Flavio; Lanzillotti, Marco. - ONLINE:SI and new electrical standards / SI et nouvelles références en électricité(2017). (Intervento presentato al convegno 18th International Congress of Metrology, 07006 (2017) tenutosi a paris nel 19/21 SETTEMBRE 2017) [10.1051/metrology/201707006]. 2017 CAPRA, PIER PAOLOCERRI, ROBERTOGALLIANA, FLAVIOLANZILLOTTI, MARCO metrology_metr2017_07006.pdf
10×10 GO guarded Hamon network designed for the Wheatstone bridge for high resistors calibration / Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO. - (2012), pp. 370-371. (Intervento presentato al convegno IMEKO). 2012 GALLIANA, FLAVIOCAPRA, PIER PAOLO -
10×10 Gohm Guarded Hamon Network for the Modified Wheatstone Bridge for High Value Resistors Calibration / Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO; Gasparotto, E.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 62:6(2013), pp. 1729-1735. [http://dx.doi.org/10.1109/TIM.2013.2253971] 2013 GALLIANA, FLAVIOCAPRA, PIER PAOLOGasparotto E. -
10×10 GΩ guarded Hamon network designed for the Wheatstone bridge for high resistors calibration / Galliana, Flavio; Capra, PIER PAOLO. - (2012), pp. 370-371. (Intervento presentato al convegno conference on precise electromangnetic measurements). 2012 GALLIANA, FLAVIOCAPRA, PIER PAOLO -
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Autore
  • GALLIANA, FLAVIO 112
  • GASPAROTTO, ENRICO 38
  • SERAZIO, DANILO 21
  • CALLEGARO, LUCA 17
  • LANZILLOTTI, MARCO 16
  • SOSSO, ANDREA 16
  • DURBIANO, FRANCESCA 12
  • CASSIAGO, CRISTINA 10
  • ASTRUA, MILENA 9
  • CERRI, ROBERTO 9
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 13
  • 2010 - 2019 55
  • 2000 - 2009 71
  • 1991 - 1999 19
Editore
  • AEI 25
  • IMEKO 6
  • EDP Sciences 4
  • Elsevier 4
  • LES ULIS CEDEX: EDP Sciences 3
  • IEEE 2
  • Springer-Verlag Italia 2
  • Aracne editrice S.r.l., 1
  • AUGUSTA MORTARINO 1
  • BIPM-IOP 1
Rivista
  • IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTAT... 13
  • MEASUREMENT 10
  • TUTTO MISURE 6
  • METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMS 3
  • METROLOGIA 2
  • ENGINEERING RESEARCH EXPRESS 1
  • IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS 1
  • IMEKO TC4 INTERNATIONAL SYMPOSIUM 1
  • MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY 1
  • REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 1
Keyword
  • measurement uncertainties 5
  • measurement uncertainty 3
  • neurodegenerative diseases 3
  • uncertainty 3
  • fault currents 2
  • Hamon resistor 2
  • measurement techniques 2
  • temperature rise test 2
  • test laboratory 2
  • tremor evaluation 2
Lingua
  • eng 89
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