Linearity of a silicon carbide photodiode in the deep-UV spectral region: implications on Doppler broadening thermometry / Dinesan, H.; Gravina, S.; Clivati, C.; Castrillo, A.; Levi, F.; Gianfrani, L.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 57:6(2020), p. 065001. [10.1088/1681-7575/aba052]

Linearity of a silicon carbide photodiode in the deep-UV spectral region: implications on Doppler broadening thermometry

Clivati, C.;Levi, F.;
2020

2020
partially_open
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
Dinesan_2020_Metrologia2020.pdf

solo utenti autorizzati

Tipologia: Versione editoriale
Licenza: Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione 571.76 kB
Formato Adobe PDF
571.76 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri   Richiedi una copia
METROLOGIA POST PRINT.pdf

Open Access dal 17/10/2021

Tipologia: Documento in Post-print
Licenza: Creative Commons
Dimensione 352.97 kB
Formato Adobe PDF
352.97 kB Adobe PDF Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11696/66121
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 7
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 4
social impact