Metrological traceability for digital sensors in smart manufacturing: calibration of MEMS microphones and accelerometers at INRiM / Prato, A.; Mazzoleni, F.; Schiavi, A.. - (2019). (Intervento presentato al convegno IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT tenutosi a Naples nel June, 4-6).

Metrological traceability for digital sensors in smart manufacturing: calibration of MEMS microphones and accelerometers at INRiM

A. Prato;F. Mazzoleni;A. Schiavi
2019

2019
IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT
June, 4-6
Naples
none
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