METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

Positioning control of large objects with subnanometric accuracy / F., Bertinetto; Mana, Giovanni; P., Cordiale; M., Zangirolami; Bisi, Marco; F., Pepe; S., Cesare; E., Canuto; F., Donati. - (1999), pp. 15-20. (Intervento presentato al convegno ODIMAP II – 2nd Topical Meeting on Optoelectronic Distance Measurements and Applications tenutosi a Pavia nel 20-22 maggio 1999).

Positioning control of large objects with subnanometric accuracy

MANA, GIOVANNI;BISI, MARCO;
1999
1999
ODIMAP II – 2nd Topical Meeting on Optoelectronic Distance Measurements and Applications
20-22 maggio 1999
Pavia
none
4.1 Contributo in Atti di convegno
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