METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

Nanostructured Semiconductors: from basic research to applications / Boarino, Luca; Amato, Giampiero; Enrico, Emanuele; DE LEO, Maria; Celegato, F; Coisson, Marco; Vinai, Franco; Tiberto, PAOLA MARIA; Chiodoni, A; Laus, M.. - (2011).

Nanostructured Semiconductors: from basic research to applications

BOARINO, LUCA;AMATO, GIAMPIERO;ENRICO, EMANUELE;DE LEO, MARIA;Celegato, F;COISSON, MARCO;VINAI, FRANCO;TIBERTO, PAOLA MARIA;
2011
2011
Porous Silicon by self-assembling and metal assisted etching
none
2.1 Capitolo di libro
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