Sub-nanometric Metrology for High Resolution Astrometric Interferometry / Bisi, Marco; F., Alasia; F., Bertinetto; P., Cordiale; G., Galzerano; Mana, Giovanni; M., Zangirolami. - (1998), pp. 339-341. (Intervento presentato al convegno 1998 Conference on Precision Electromagnetic Measurements tenutosi a Gaithersburg, Maryland, USA nel July 6-10, 1998).

Sub-nanometric Metrology for High Resolution Astrometric Interferometry

BISI, MARCO;MANA, GIOVANNI;
1998

1998
1998 Conference on Precision Electromagnetic Measurements
July 6-10, 1998
Gaithersburg, Maryland, USA
none
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