METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

STATUS OF THE NA DETERMINATION BY COUNTING ATOMS IN SILICON CRYSTALS / Becker, P; Bettin, H; Borys, M; Busch, I; Fujii, K; Gray, M; Krumrey, M; Kuetgens, U; Mana, Giovanni; Manson, P; Massa, Enrico; Nicolaus, A; Picard, A; Schiel, D; Valkiers, S.. - (2010), pp. 107-108. (Intervento presentato al convegno CPEM 2010 tenutosi a Daejeon, Korea nel June 13-18, 2010).

STATUS OF THE NA DETERMINATION BY COUNTING ATOMS IN SILICON CRYSTALS

MANA, GIOVANNI;MASSA, ENRICO;
2010
2010
CPEM 2010
June 13-18, 2010
Daejeon, Korea
none
4.1 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11696/30547
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