Structural and morphological properties of evaporated SiOx films / Monticone, Eugenio; Rossi, ANDREA MARIO; Rajteri, Mauro; Gonnelli, Rs; Lacquaniti, Vincenzo; Amato, Giampiero. - In: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STATISTICAL MECHANICS, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES. - ISSN 1364-2812. - 80:4(2000), pp. 523-529. [10.1080/014186300255177]

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11696/30154
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 7
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact