A sample scanning system with nanometric accuracy for quantitative SPM measurements / Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - In: ULTRAMICROSCOPY. - ISSN 0304-3991. - 1:(2001), pp. 1-12.

A sample scanning system with nanometric accuracy for quantitative SPM measurements

PICOTTO, GIANBARTOLO;PISANI, MARCO
2001

2001
none
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