METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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International interlaboratory comparison of Raman spectroscopic analysis of CVD-grown graphene / Turner, P., Paton, K.r., Legge, E.j., Bugallo, A.d., Rocha-Robledo, A., Zahab, A.a., Centeno, A., Sacco, A., Pesquera, A., Zurutuza, A., Rossi, A.m., Tran, D., Silva, D.l., Losic, D., Farivar, F., Kerdoncuff, H., Kwon, H., Pirart, J., Campos, J., Subhedar, K.m., et al.. - In: 2D MATERIALS. - ISSN 2053-1583. - 9:3(2022), p. 035010. [10.1088/2053-1583/ac6cf3] 2022 Sacco, ARossi, AM + Turner_2022_International interlaboratory comparison of Raman spectroscopic analysis of CVD-grown graphene.pdf; CVDgraphene_Raman_VAMAS_2DMaterials_accepted.pdf; CVDgraphene_Raman_VAMAS_2DMaterials_ESI.pdf
Weak localization in electric-double-layer gated few-layer graphene / Gonnelli, R.S., Piatti, E., Sola, A., Tortello, M., Dolcini, F., Galasso, S., Nair, J.R., Gerbaldi, C., Cappelluti, E., Bruna, M., Ferrari, A.C.. - In: 2D MATERIALS. - ISSN 2053-1583. - 4:3(2017), p. 035006. [10.1088/2053-1583/aa5afe] 2017 Sola, A + 05 - Weak Localization in Electric-Double-Layer Gated Few-layer Graphene.pdf
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