METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Seismic noise in crystal neutron interferometry / Mana, G.; Massa, E.. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 1600-5767. - 58:6(2025). [10.1107/s1600576725008660] 2025 Mana, G.Massa, E. 2025_Seismic noise in crystal neutron interferometry.pdf
Three-dimensional model of a split-crystal X-ray and neutron interferometer / Sasso, C.P., Mana, G., Massa, E.. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 1600-5767. - 55:6(2022), pp. 1500-1513. [10.1107/S1600576722008962] 2022 Sasso, C. P.Mana, G.Massa, E. 2210.16309.pdf; 2022_Three‐dimensional model of a split‐crystal X‐ray and neutron.pdf
X-ray phase-contrast topography to measure the surface stress and bulk strain in a silicon crystal / Massa, E., Sasso, C.P., Fretto, M., Martino, L., Mana, G.. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 1600-5767. - 53:5(2020), pp. 1195-1202. [10.1107/s1600576720009267] 2020 E. MassaC. P. SassoM. FrettoL. MartinoG. Mana VH521_X_ray_phase_contrast_topography_to_measure_the_surface_stress.pdf
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