METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Structure‐Dependent Influence of Moisture on Resistive Switching Behavior of ZnO Thin Films / Milano, G., Luebben, M., Laurenti, M., Boarino, L., Ricciardi, C., Valov, I.. - In: ADVANCED MATERIALS INTERFACES. - ISSN 2196-7350. - 8:16(2021), p. 2100915. [10.1002/admi.202100915] 2021 Milano, GianlucaBoarino, Luca + Adv Materials Inter - 2021 - Milano - Structure‐Dependent Influence of Moisture on Resistive Switching Behavior of ZnO Thin.pdf
Textured and Rigid Capillary Materials for Passive Energy-Conversion Devices / Alberghini, M., Morciano, M., Giardino, M., Perrucci, F., Scaltrito, L., Janner, D., Chiavazzo, E., Fasano, M., Asinari, P.. - In: ADVANCED MATERIALS INTERFACES. - ISSN 2196-7350. - 9:18(2022), p. 2200057. [10.1002/admi.202200057] 2022 Scaltrito, LAsinari, P + Adv Materials Inter - 2022 - Alberghini - Textured and Rigid Capillary Materials for Passive Energy‐Conversion Devices.pdf
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