METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Displacement measurements of piezoelectric actuators in the nanosize-range / Fabbri, G.; Galassi, C.; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - PTB-Bericht F-44:(2001), pp. 118-124. 2001 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + -
A sample scanning system with nanometric accuracy for quantitative SPM measurements / Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - In: ULTRAMICROSCOPY. - ISSN 0304-3991. - 1:(2001), pp. 1-12. 2001 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO -
Intercomparison of scanning probe microscopes / R., Fries; Picotto, Gianbartolo. - In: PRECISION ENGINEERING. - ISSN 0141-6359. - 26 (3):(2002), pp. 296-305. 2002 PICOTTO, GIANBARTOLO + -
Structural and electrical characterisation of Mo films for transition-edge sensors / Monticone, Eugenio; Rajteri, Mauro; Portesi, Chiara; Gandini, C; Bodoardo, S; Picotto, Gianbartolo. - In: PHYSICA. C, SUPERCONDUCTIVITY. - ISSN 0921-4534. - 372:(2002), pp. 440-443. [10.1016/S0921-4534(02)00718-9] 2002 MONTICONE, EUGENIORAJTERI, MAUROPORTESI, CHIARAPICOTTO, GIANBARTOLO + -
Interferometric calibration of microdisplacement actuators / Picotto, Gianbartolo. - 5190:(2003), pp. 355-360. 2003 PICOTTO, GIANBARTOLO -
Comparison on Nanometrology: Nano 2—Step height / L., Koenders; Picotto, Gianbartolo. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 40:(2003), p. 04001. 2003 PICOTTO, GIANBARTOLO + -
Correlation between Photoactivity and STM Topographic Parameters of TiO2 Polycrystalline Film / Apasquini, A. Pasquini; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco; Maurino, V.; Minero, C.. - 696:(2003), pp. 802-809. (Intervento presentato al convegno SCANNING TUNNELING MICROSCOPY/SPECTROSCOPY AND RELATED TECHNIQUES: 12th International Conference STM'03 tenutosi a Eindhoven (NETHERLANDS) nel 21-25 July 2003) [http://dx.doi.org/10.1063/1.1639786]. 2003 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + -
STM tips fabrication for critical dimension measurement / Pasquini, A. .; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - 186:(2005), pp. 357-362. [10.1007/1-4020-3019-3] 2005 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + -
Nanometrology at the IMGC / Bisi, Marco; Massa, Enrico; Pasquini, A.; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - (2005), pp. 22-37. [10.1002/3527606661.ch2] 2005 BISI, MARCOMASSA, ENRICOPICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + -
STM carbon nanotube tips fabrication for critical dimension measurements / Pasquini, A; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - In: SENSORS AND ACTUATORS. A, PHYSICAL. - ISSN 0924-4247. - 123-124:(2005), pp. 655-659. [10.1016/j.sna.2005.02.03] 2005 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + -
Comparison on step height measurements in the nano and micrometre range by scanning force microscopes / L., Koenders; P., Klapetek; F., Meli; Picotto, Gianbartolo. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 43:(2006), pp. 04001-04001. [10.1088/0026-1394/43/1A/04001] 2006 PICOTTO, GIANBARTOLO + -
AFM analysis of MgB2 films and nanostructures / Portesi, Chiara; Borini, S.; Picotto, Gianbartolo; Monticone, Eugenio. - In: SURFACE SCIENCE. - ISSN 0039-6028. - 601:1(2007), pp. 58-62. [10.1016/j.susc.2006.09.004] 2007 PORTESI, CHIARAPICOTTO, GIANBARTOLOMONTICONE, EUGENIO + -
Increase of maximum detectable slope with optical profilers, through controlled tilting and image processing / F., Marinello; P., Bariani; A., Pasquini; L., DE CHIFFRE; M., Bossard; Picotto, Gianbartolo. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 18:(2007), pp. 384-389. [10.1088/0957-0233/18/2/S0] 2007 PICOTTO, GIANBARTOLO + -
The INRIM 1D comparator for diameter gauges and linear artefacts / Picotto, Gianbartolo; M., Pometto; R., Bellotti. - (2008). 2008 PICOTTO, GIANBARTOLO + -
A capacitive system for micro/nano positioning and attitude controls / Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco; Sosso, Andrea. - (2008). 2008 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCOSOSSO, ANDREA -
Fabrication of superconducting MgB2 nanostructures / Portesi, Chiara; Monticone, Eugenio; Borini, S; Picotto, Gianbartolo; Pugno, N; Carpinteri, A.. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONDENSED MATTER. - ISSN 0953-8984. - 20:47(2008), pp. 464210-1-464210-8. [10.1088/0953-8984/20/47/474210] 2008 PORTESI, CHIARAMONTICONE, EUGENIOPICOTTO, GIANBARTOLO + -
Nanoscale metrology / Picotto, Gianbartolo; Koenders, L.; Wilkening, G.. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 20:8(2009), pp. 080101-080102. [10.1088/0957-0233/20/8/080101] 2009 PICOTTO, GIANBARTOLO + -
A multi-electrode plane capacitive sensor for displacement measurements and attitude controls / Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco; Sosso, Andrea. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 20:8(2009), pp. 084011-084014. [10.1088/0957-0233/20/8/084011] 2009 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCOSOSSO, ANDREA -
Final report on EUROMET.L-S15.a (EUROMET Project 925): Intercomparison on step height standards and 1D gratings / H. U., Danzebrink; Ludger, Koenders; Picotto, Gianbartolo; Antti, Lassila; SHIHUA H., Wang; Petr, Klapetek. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 47:(2010), pp. 04006-04006. [10.1088/0026-1394/47/1A/04006] 2010 PICOTTO, GIANBARTOLO + -
Final report on EUROMET.L-K4: Calibration of diameter standards, Group 1 / Picotto, Gianbartolo. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 47:(2010), pp. 04003-04003. [10.1088/0026-1394/47/1A/04003] 2010 PICOTTO, GIANBARTOLO -
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