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Valutazione dell’incertezza nella misura della temperatura durante le prove di apparecchiature elettriche / Sardi, A.; Bellavia, Luciano; Cinnirella, L.; Roccato, P.; Iacomini, L.. - (2015). 2015 A. SardiBELLAVIA, LUCIANOL. CinnirellaP. RoccatoL. Iacomini RT_22_2015.pdf
Using of High Precision Multimeter Digitizer for High Transient Current Calibration / Roccato, P. E.; Capra, P. P.; Bellavia, L.; Cinnirella, L.; Lanzillotti, M.. - (2018), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018)) [10.1109/CPEM.2018.8501250]. 2018 Roccato, P. E.Capra, P. P.Bellavia, L.Cinnirella, L.Lanzillotti, M. 08501250.pdf
Taratura di trasduttori per cortocircuito mediante digitalizzatori ad elevata precisione / Roccato, P.; Bellavia, L.; Lanzillotti, M.; Capra, P. P.. - (2020), pp. 219-220. (Intervento presentato al convegno IV Forum Nazionale delle Misure). 2020 P. RoccatoL. BellaviaM. LanzillottiP. P. Capra Roccato.pdf
Influence of crimped connections in temperature rise tests / Roccato, Paolo Emilio; Bellavia, Luciano; Capra, Pier Paolo; Cinnirella, Luca; Galliana, Flavio; Perta, Arcangela. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 31:4(2020), pp. 1-6. [10.1088/1361-6501/ab5824] 2020 Roccato, Paolo EmilioBellavia, LucianoCapra, Pier PaoloCinnirella, LucaGalliana, Flavio + Meas._Sci._Technol._31_04_20.pdf
Dependency of the electrical resistance in crimped connections on mechanical stresses / Roccato, Paolo Emilio; Bellavia, Luciano; Galliana, Flavio; Capra, Pier Paolo; Perta, Arcangela. - In: ENGINEERING RESEARCH EXPRESS. - ISSN 2631-8695. - 2:3(2020), pp. 1-6. [10.1088/2631-8695/aba1a2] 2020 Roccato, Paolo EmilioBellavia, LucianoGalliana, FlavioCapra, Pier Paolo + ERX_2020.pdfART_CONN_CRIMPs_mech_final_f.pdf
Dipendenza delle connessioni crimpate dagli stress meccanici e termici / Bellavia, L.; Caria, S. E.; Galliana, F.; Perta, A. P.; Roccato, P. E.. - (2022), pp. 1-38. 2022 L. BellaviaS. E. CariaF. GallianaP. E. Roccato + RT_9_final.pdf
The Effect of Thermal Stresses on the Electrical Resistance of Crimped Connections / Galliana, F; Bellavia, L; Caria, Se; Perta, Ap; Roccato, Pe. - In: MAPAN. JOURNAL OF METROLOGY SOCIETY OF INDIA. - ISSN 0970-3950. - 38:1(2022), pp. 71-82. [10.1007/s12647-022-00574-1] 2022 Galliana, FBellavia, LCaria, SERoccato, PE + Mapan_2023.pdf
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