METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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High spectral purity CO2 laser stabilized using a molecular frequency reference / Pisani, Marco; Sassi, MARIA PAOLA; Zucco, Massimo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 44:2(1995), pp. 159-161. [10.1109/19.377798] 1995 PISANI, MARCOSASSI, MARIA PAOLAZUCCO, MASSIMO -
A scanning tunnelling microscope device having interferometric and/or capacitance-based control of displacements / Desogus, S.; Lanyi, S; Nerino, R.; Picotto, {. G. B. }.; Pisani, Marco; Sosso, Andrea. - (1997). 1997 PISANI, MARCOSOSSO, ANDREA + -
Pointing device for a computer / Pisani, Marco; Zangirolami, M; Mongarli, A.. - (1997). 1997 PISANI, MARCO + -
Enciclopedia UTET NOVA / Pisani, Marco. - (1998). 1998 PISANI, MARCO -
Ruolo delle grandezze elettriche nella metrologia meccanica e termica / Bertinetto, F; Marcarino, P; Pisani, Marco; Rebaglia, B.. - In: ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETTRONICA. - ISSN 1120-1908. - (1999). 1999 PISANI, MARCO + -
A precision Z-stage for Scanning Probe Microscopy / Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - PTB-Bericht F-39:(2000), pp. 164-168. 2000 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO -
A metrological SPM for dimensional surface measurements / Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - Vol. 1:(2001), pp. 402-405. 2001 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO -
Displacement measurements of piezoelectric actuators in the nanosize-range / Fabbri, G.; Galassi, C.; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - PTB-Bericht F-44:(2001), pp. 118-124. 2001 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + -
Topography reconstruction by means of optical scatterometry / Pisani, Marco; Zucco, Massimo; Picotto, Gianbartolo. - PTB-Bericht F-44:(2001), pp. 118-124. 2001 PISANI, MARCOZUCCO, MASSIMOPICOTTO, GIANBARTOLO -
Circuit yields accurate absolute values / Pisani, Marco. - In: EDN. - ISSN 0012-7515. - July 2001:(2001), pp. 125-125. 2001 PISANI, MARCO -
1-kV Piezo Amplifier Keeps Cost, Noise Low / Pisani, Marco. - In: ELECTRONIC DESIGN. - ISSN 0013-4872. - Aug 2001:(2001), pp. 88-90. 2001 PISANI, MARCO -
A sample scanning system with nanometric accuracy for quantitative SPM measurements / Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - In: ULTRAMICROSCOPY. - ISSN 0304-3991. - 1:(2001), pp. 1-12. 2001 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO -
Titolo: Dispositivo dotato di sensore capacitivo per il controllo di posizione e/o spostamento per altoparlanti / Pisani, Marco. - (2002). 2002 PISANI, MARCO -
Large-area 3D surface standards with polyimide for calibration of stylus and optical profilometers / Matay, L; Andok, R; Kostic, I; Picotto, G. B.; Pisani, Marco. - In: JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING. - ISSN 1335-3632. - 53:(2002), pp. 214-218. 2002 PISANI, MARCO + -
Correlation between Photoactivity and STM Topographic Parameters of TiO2 Polycrystalline Film / Apasquini, A. Pasquini; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco; Maurino, V.; Minero, C.. - 696:(2003), pp. 802-809. (Intervento presentato al convegno SCANNING TUNNELING MICROSCOPY/SPECTROSCOPY AND RELATED TECHNIQUES: 12th International Conference STM'03 tenutosi a Eindhoven (NETHERLANDS) nel 21-25 July 2003) [http://dx.doi.org/10.1063/1.1639786]. 2003 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + -
Capacità di misura e taratura (CMC) in radiometria, fotometria e colorimetria / Basso, Vittorio; Callegaro, Luca; Pimpinella, M; Pisani, Marco. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-03:(2003), pp. 268-269. 2003 BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + -
Le pagine degli Istituti Metrologici Primari / Basso, Vittorio; Callegaro, Luca; Pimpinella, M; Pisani, Marco. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-01:(2003), pp. 68-71. 2003 BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + -
L'impegno degli IMP nelle misure per la sicurezza e il comfort / Basso, Vittorio; Callegaro, Luca; Pimpinella, M; Pisani, Marco. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-04:(2003), pp. 359-360. 2003 BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + -
Gli istituti metrologici primari italiani / Basso, Vittorio; Callegaro, Luca; Pimpinella, M; Pisani, Marco. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-02:(2003), pp. 103-105. 2003 BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + -
Nanometrology at IMGC / Bisi, Marco; Massa, Enrico; Pasquini, A; Picotto, G. B.; Pisani, Marco. - (2004), pp. 0-0. (Intervento presentato al convegno nanoscale 2004 tenutosi a Braunschweig, Germany nel March 25-26, 2004). 2004 BISI, MARCOMASSA, ENRICOPISANI, MARCO + -
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