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Optically polished surfaces parallel to the (220) lattice planes of silicon monocrystals / Bergamin, A; Cavagnero, G; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; Zosi, G.. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 10:6(1999), pp. 549-553. [10.1088/0957-0233/10/6/321] 1999 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Imaging of Si-crystal lattice by phase-contrast x-ray microscopy / A., Bergamin; G., Cavagnero; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; G., Zosi. - (2000), pp. 107-108. (Intervento presentato al convegno CPEM tenutosi a Sydney Australia nel 2000 14-19 May). 2000 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Do we know the wavelength of laser beams? / Massa, Enrico. - (2000), pp. 463-464. (Intervento presentato al convegno CPEM tenutosi a -Sydney Australia nel 2000 14-19 May). 2000 MASSA, ENRICO -
Simulation of the thermoelastic behavior of an LLL x-ray interferometer / Bergamin, A; Cavagnero, G; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; Zosi, G.. - In: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS. - ISSN 0034-6748. - 71:4(2000), pp. 1716-1722. [10.1063/1.1150526] 2000 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Measuring small lattice distortions in Si-crystals by phase-contrast x-ray topography / Bergamin, A; Cavagnero, G; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; Zosi, G.. - In: JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHYSICS. - ISSN 0022-3727. - 33:21(2000), pp. 2678-2682. [10.1088/0022-3727/33/21/302] 2000 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
A new scanning x-ray interferometer / A., Bergamin; G., Cavagnero; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; G., Zosi. - (2000), pp. 109-110. (Intervento presentato al convegno CPEM tenutosi a Sydney Australia nel 14-19 May). 2000 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
CVD diamond microdosimeters / Manfredotti, C; LO GIUDICE, A; Ricciardi, C; Paolini, C; Massa, Enrico; Fizzotti, F; Vittone, E.. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - 458:(2001), pp. 360-364. 2001 MASSA, ENRICO + -
Future visioni ai raggi X / Massa, Enrico; Mana, Giovanni; Montanari, F.. - In: SAPERE. - ISSN 0036-4681. - (2001). 2001 MASSA, ENRICOMANA, GIOVANNI + -
Phase contrast imaging using an x-ray interferometer / U., Berzano; Durando, Giovanni; Massa, Enrico. - 1:(2001), pp. 574-577. (Intervento presentato al convegno Euspen tenutosi a Turin nel 27 - 31 MAY). 2001 DURANDO, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
A micro-manipulator for scanning x-ray interferometry / Durando, Giovanni; Massa, Enrico. - 2:(2001), pp. 426-429. (Intervento presentato al convegno 2nd euspen International Conference tenutosi a Turin nel 27 - 31 MAY). 2001 DURANDO, GIOVANNIMASSA, ENRICO -
Accuracy of laser beam center and width calculations / Mana, Giovanni; Massa, Enrico; Rovera, A.. - In: APPLIED OPTICS. - ISSN 0003-6935. - 40:9(2001), pp. 1378-1385. [10.1364/AO.40.001378] 2001 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Remeasurement of the (220) lattice spacing of silicon / G., Cavagnero; Durando, Giovanni; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; G., Zosi. - (2002), pp. 562-563. (Intervento presentato al convegno CPEM tenutosi a Ottawa, Ontario Canada nel 16-21 June 2002). 2002 DURANDO, GIOVANNIMANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
A two-axis tip-tilt platform for x-ray interferometry / Bergamin, A; Cavagnero, G; Durando, Giovanni; Mana, Giovanni; Massa, Enrico. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - 14:6(2003), pp. 717-723. [10.1088/0957-0233/14/6/303] 2003 DURANDO, GIOVANNIMANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Retrieval of the phase profile of digitized interferograms / Balsamo, Alessandro; Cavagnero, G; Mana, Giovanni; Massa, Enrico. - In: JOURNAL OF OPTICS. A, PURE AND APPLIED OPTICS. - ISSN 1464-4258. - 5:4(2003), pp. 418-424. [10.1088/1464-4258/5/4/318] 2003 BALSAMO, ALESSANDROMANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Nanometrologia all'IMGC/CNR / Bisi, Marco; Germak, ALESSANDRO FRANCO LIDIA; Massa, Enrico; G. B., Picotto; Pisani, Marco. - In: NANOTEC IT NEWSLETTER. - 1:(2004), pp. 7-10. 2004 BISI, MARCOGERMAK, ALESSANDRO FRANCO LIDIAMASSA, ENRICOPISANI, MARCO + -
Present status of the Avogadro constant determination from silicon crystal with natural isotopic composition / K., Fujii; A., Waseda; N., Kuramoto; S., Mizushima; P., Becker; H., Bettin; A., Nicolaus; U., Kuetgens; S. VALKIERS P., Taylor; P., DE BIÈVRE; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; R., Matyi. - (2004), pp. 143-144. (Intervento presentato al convegno CPEM tenutosi a London nel 27th June 2nd July). 2004 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Nanometrology at IMGC / Bisi, Marco; Massa, Enrico; Pasquini, A; Picotto, G. B.; Pisani, Marco. - (2004), pp. 0-0. (Intervento presentato al convegno nanoscale 2004 tenutosi a Braunschweig, Germany nel March 25-26, 2004). 2004 BISI, MARCOMASSA, ENRICOPISANI, MARCO + -
Comparison of IMGC and PTB absolute determinations of the Si (220) lattice spacing / P., Beker; U., Kuetgens; Mana, Giovanni; Massa, Enrico. - (2004), pp. 441-442. (Intervento presentato al convegno CPEM tenutosi a London nel 27th June 2nd July). 2004 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Measurement repetitions of the Si(220)lattice spacing / G., Cavagnero; H., Fujimoto; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; K., Nakayama; G., Zosi. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 41:(2004), pp. 56-64. 2004 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
Effect of recycled light in two-beam interferometry / G., Cavagnero; Mana, Giovanni; Massa, Enrico. - In: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS. - ISSN 0034-6748. - 76:(2005), pp. 053106-053106. [10.1063/1.1899483] 2005 MANA, GIOVANNIMASSA, ENRICO + -
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