Sfoglia per Autore PISANI, MARCO
High spectral purity CO2 laser stabilized using a molecular frequency reference
1995 Pisani, Marco; Sassi, MARIA PAOLA; Zucco, Massimo
A scanning tunnelling microscope device having interferometric and/or capacitance-based control of displacements
1997 Desogus, S.; Lanyi, S; Nerino, R.; Picotto, {. G. B. }.; Pisani, Marco; Sosso, Andrea
Pointing device for a computer
1997 Pisani, Marco; Zangirolami, M; Mongarli, A.
Enciclopedia UTET NOVA
1998 Pisani, Marco
Ruolo delle grandezze elettriche nella metrologia meccanica e termica
1999 Bertinetto, F; Marcarino, P; Pisani, Marco; Rebaglia, B.
A precision Z-stage for Scanning Probe Microscopy
2000 Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco
Topography reconstruction by means of optical scatterometry
2001 Pisani, Marco; Zucco, Massimo; Picotto, Gianbartolo
Displacement measurements of piezoelectric actuators in the nanosize-range
2001 Fabbri, G.; Galassi, C.; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco
Circuit yields accurate absolute values
2001 Pisani, Marco
A metrological SPM for dimensional surface measurements
2001 Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco
1-kV Piezo Amplifier Keeps Cost, Noise Low
2001 Pisani, Marco
A sample scanning system with nanometric accuracy for quantitative SPM measurements
2001 Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco
Large-area 3D surface standards with polyimide for calibration of stylus and optical profilometers
2002 Matay, L; Andok, R; Kostic, I; Picotto, G. B.; Pisani, Marco
Titolo: Dispositivo dotato di sensore capacitivo per il controllo di posizione e/o spostamento per altoparlanti
2002 Pisani, Marco
Correlation between Photoactivity and STM Topographic Parameters of TiO2 Polycrystalline Film
2003 Apasquini, A. Pasquini; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco; Maurino, V.; Minero, C.
Le pagine degli Istituti Metrologici Primari
2003 Basso, Vittorio; Callegaro, Luca; Pimpinella, M; Pisani, Marco
L'impegno degli IMP nelle misure per la sicurezza e il comfort
2003 Basso, Vittorio; Callegaro, Luca; Pimpinella, M; Pisani, Marco
Capacità di misura e taratura (CMC) in radiometria, fotometria e colorimetria
2003 Basso, Vittorio; Callegaro, Luca; Pimpinella, M; Pisani, Marco
Gli istituti metrologici primari italiani
2003 Basso, Vittorio; Callegaro, Luca; Pimpinella, M; Pisani, Marco
Nanometrologia all'IMGC/CNR
2004 Bisi, Marco; Germak, ALESSANDRO FRANCO LIDIA; Massa, Enrico; G. B., Picotto; Pisani, Marco
Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
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High spectral purity CO2 laser stabilized using a molecular frequency reference / Pisani, Marco; Sassi, MARIA PAOLA; Zucco, Massimo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 44:2(1995), pp. 159-161. [10.1109/19.377798] | 1995 | PISANI, MARCOSASSI, MARIA PAOLAZUCCO, MASSIMO | - |
A scanning tunnelling microscope device having interferometric and/or capacitance-based control of displacements / Desogus, S.; Lanyi, S; Nerino, R.; Picotto, {. G. B. }.; Pisani, Marco; Sosso, Andrea. - (1997). | 1997 | PISANI, MARCOSOSSO, ANDREA + | - |
Pointing device for a computer / Pisani, Marco; Zangirolami, M; Mongarli, A.. - (1997). | 1997 | PISANI, MARCO + | - |
Enciclopedia UTET NOVA / Pisani, Marco. - (1998). | 1998 | PISANI, MARCO | - |
Ruolo delle grandezze elettriche nella metrologia meccanica e termica / Bertinetto, F; Marcarino, P; Pisani, Marco; Rebaglia, B.. - In: ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETTRONICA. - ISSN 1120-1908. - (1999). | 1999 | PISANI, MARCO + | - |
A precision Z-stage for Scanning Probe Microscopy / Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - PTB-Bericht F-39:(2000), pp. 164-168. | 2000 | PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO | - |
Topography reconstruction by means of optical scatterometry / Pisani, Marco; Zucco, Massimo; Picotto, Gianbartolo. - PTB-Bericht F-44:(2001), pp. 118-124. | 2001 | PISANI, MARCOZUCCO, MASSIMOPICOTTO, GIANBARTOLO | - |
Displacement measurements of piezoelectric actuators in the nanosize-range / Fabbri, G.; Galassi, C.; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - PTB-Bericht F-44:(2001), pp. 118-124. | 2001 | PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + | - |
Circuit yields accurate absolute values / Pisani, Marco. - In: EDN. - ISSN 0012-7515. - July 2001:(2001), pp. 125-125. | 2001 | PISANI, MARCO | - |
A metrological SPM for dimensional surface measurements / Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - Vol. 1:(2001), pp. 402-405. | 2001 | PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO | - |
1-kV Piezo Amplifier Keeps Cost, Noise Low / Pisani, Marco. - In: ELECTRONIC DESIGN. - ISSN 0013-4872. - Aug 2001:(2001), pp. 88-90. | 2001 | PISANI, MARCO | - |
A sample scanning system with nanometric accuracy for quantitative SPM measurements / Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - In: ULTRAMICROSCOPY. - ISSN 0304-3991. - 1:(2001), pp. 1-12. | 2001 | PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO | - |
Large-area 3D surface standards with polyimide for calibration of stylus and optical profilometers / Matay, L; Andok, R; Kostic, I; Picotto, G. B.; Pisani, Marco. - In: JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING. - ISSN 1335-3632. - 53:(2002), pp. 214-218. | 2002 | PISANI, MARCO + | - |
Titolo: Dispositivo dotato di sensore capacitivo per il controllo di posizione e/o spostamento per altoparlanti / Pisani, Marco. - (2002). | 2002 | PISANI, MARCO | - |
Correlation between Photoactivity and STM Topographic Parameters of TiO2 Polycrystalline Film / Apasquini, A. Pasquini; Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco; Maurino, V.; Minero, C.. - 696:(2003), pp. 802-809. (Intervento presentato al convegno SCANNING TUNNELING MICROSCOPY/SPECTROSCOPY AND RELATED TECHNIQUES: 12th International Conference STM'03 tenutosi a Eindhoven (NETHERLANDS) nel 21-25 July 2003) [http://dx.doi.org/10.1063/1.1639786]. | 2003 | PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + | - |
Le pagine degli Istituti Metrologici Primari / Basso, Vittorio; Callegaro, Luca; Pimpinella, M; Pisani, Marco. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-01:(2003), pp. 68-71. | 2003 | BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + | - |
L'impegno degli IMP nelle misure per la sicurezza e il comfort / Basso, Vittorio; Callegaro, Luca; Pimpinella, M; Pisani, Marco. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-04:(2003), pp. 359-360. | 2003 | BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + | - |
Capacità di misura e taratura (CMC) in radiometria, fotometria e colorimetria / Basso, Vittorio; Callegaro, Luca; Pimpinella, M; Pisani, Marco. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-03:(2003), pp. 268-269. | 2003 | BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + | - |
Gli istituti metrologici primari italiani / Basso, Vittorio; Callegaro, Luca; Pimpinella, M; Pisani, Marco. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-02:(2003), pp. 103-105. | 2003 | BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + | - |
Nanometrologia all'IMGC/CNR / Bisi, Marco; Germak, ALESSANDRO FRANCO LIDIA; Massa, Enrico; G. B., Picotto; Pisani, Marco. - In: NANOTEC IT NEWSLETTER. - 1:(2004), pp. 7-10. | 2004 | BISI, MARCOGERMAK, ALESSANDRO FRANCO LIDIAMASSA, ENRICOPISANI, MARCO + | - |
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