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Citazione Data di pubblicazione Autore(i) File
High spectral purity CO2 laser stabilized using a molecular frequency reference / PISANI M; SASSI M.P; ZUCCO M. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 44:2(1995), pp. 159-161. 1995 PISANI, MARCOSASSI, MARIA PAOLAZUCCO, MASSIMO -
Pointing device for a computer / PISANI M; ZANGIROLAMI M; MONGARLI A. - (1997). 1997 PISANI, MARCO + -
A scanning tunnelling microscope device having interferometric and/or capacitance-based control of displacements / Desogus S.; Lanyi S; Nerino R.; Picotto {G. B.}; Pisani M.; Sosso A. - (1997). 1997 PISANI, MARCOSOSSO, ANDREA + -
Enciclopedia UTET NOVA / PISANI M. - (1998). 1998 PISANI, MARCO -
Ruolo delle grandezze elettriche nella metrologia meccanica e termica / Bertinetto F; Marcarino P; Pisani M; Rebaglia B. - In: ALTA FREQUENZA - RIVISTA DI ELETTRONICA. - ISSN 1120-1908. - (1999). 1999 PISANI, MARCO + -
A precision Z-stage for Scanning Probe Microscopy / Picotto, G.; Pisani, M.. - PTB-Bericht F-39(2000), pp. 164-168. 2000 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO -
Circuit yields accurate absolute values / PISANI M. - In: EDN. - ISSN 0012-7515. - July 2001(2001), pp. 125-125. 2001 PISANI, MARCO -
A metrological SPM for dimensional surface measurements / Picotto, G.; Pisani, M.. - Vol. 1(2001), pp. 402-405. 2001 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO -
Topography reconstruction by means of optical scatterometry / Pisani, M.; Zucco, M.; Picotto, G.. - PTB-Bericht F-44(2001), pp. 118-124. 2001 PISANI, MARCOZUCCO, MASSIMOPICOTTO, GIANBARTOLO -
Displacement measurements of piezoelectric actuators in the nanosize-range / Fabbri, G.; Galassi, C.; Picotto, G.; Pisani, M.. - PTB-Bericht F-44(2001), pp. 118-124. 2001 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + -
A sample scanning system with nanometric accuracy for quantitative SPM measurements / Picotto, G.; Pisani, M. - In: ULTRAMICROSCOPY. - ISSN 0304-3991. - 1(2001), pp. 1-12. 2001 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO -
1-kV Piezo Amplifier Keeps Cost, Noise Low / PISANI M. - In: ELECTRONIC DESIGN. - ISSN 0013-4872. - Aug 2001(2001), pp. 88-90. 2001 PISANI, MARCO -
Large-area 3D surface standards with polyimide for calibration of stylus and optical profilometers / MATAY L; ANDOK R; KOSTIC I; PICOTTO G.B; PISANI M. - In: JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING. - ISSN 1335-3632. - 53(2002), pp. 214-218. 2002 PISANI, MARCO + -
Titolo: Dispositivo dotato di sensore capacitivo per il controllo di posizione e/o spostamento per altoparlanti / PISANI M. - (2002). 2002 PISANI, MARCO -
L'impegno degli IMP nelle misure per la sicurezza e il comfort / BASSO V; CALLEGARO L; PIMPINELLA M; PISANI M. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-04(2003), pp. 359-360. 2003 BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + -
Gli istituti metrologici primari italiani / BASSO V; CALLEGARO L; PIMPINELLA M; PISANI M. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-02(2003), pp. 103-105. 2003 BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + -
Correlation between Photoactivity and STM Topographic Parameters of TiO2 Polycrystalline Film / Apasquini, A.Pasquini; Picotto, G.; Pisani, M.; Maurino, V.; Minero, C.. - 696(2003), pp. 802-809. ((Intervento presentato al convegno SCANNING TUNNELING MICROSCOPY/SPECTROSCOPY AND RELATED TECHNIQUES: 12th International Conference STM'03 tenutosi a Eindhoven (NETHERLANDS) nel 21-25 July 2003. 2003 PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO + -
Capacità di misura e taratura (CMC) in radiometria, fotometria e colorimetria / BASSO V; CALLEGARO L; PIMPINELLA M; PISANI M. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-03(2003), pp. 268-269. 2003 BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + -
Le pagine degli Istituti Metrologici Primari / BASSO V; CALLEGARO L; PIMPINELLA M; PISANI M. - In: TUTTO MISURE. - ISSN 2038-6974. - V-01(2003), pp. 68-71. 2003 BASSO, VITTORIOCALLEGARO, LUCAPISANI, MARCO + -
Nanometrologia all'IMGC/CNR / BISI M; A. GERMAK; E. MASSA; G.B. PICOTTO; M. PISANI. - In: NANOTEC IT NEWSLETTER. - 1(2004), pp. 7-10. 2004 BISI, MARCOGERMAK, ALESSANDRO FRANCO LIDIAMASSA, ENRICOPISANI, MARCO + -
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