Sfoglia per Rivista ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS
Mostrati risultati da 1 a 1 di 1
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Real-Time TEM Observation of the Microstructural Evolution in Silver Nanowires under Heating and Electrical Biasing / Bejtka, Katarzyna; Allione, Marco; Ricciardi, Carlo; Pirri, Candido Fabrizio; Milano, Gianluca. - In: ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS. - ISSN 2637-6113. - 8:3(2026), pp. 1156-1165. [10.1021/acsaelm.5c02254] | 2026 | Pirri, Candido FabrizioMilano, Gianluca + | real-time-tem-observation-of-the-microstructural-evolution-in-silver-nanowires-under-heating-and-electrical-biasing.pdf |
Mostrati risultati da 1 a 1 di 1
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile