Sfoglia per Rivista  NANOMANUFACTURING AND METROLOGY

Opzioni
Vai a: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

Mostrati risultati da 1 a 1 di 1
Citazione Data di pubblicazione Autori File
AFM Measurements and Tip Characterization of Nanoparticles with Different Shapes / Bellotti, Roberto; Picotto Gian, Bartolo; Ribotta, Luigi. - In: NANOMANUFACTURING AND METROLOGY. - ISSN 2520-8128. - (2022). [10.1007/s41871-022-00125-x] 2022 Bellotti RobertoRibotta Luigi + Bellotti2022.pdf
Mostrati risultati da 1 a 1 di 1
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile