Sfoglia per Serie  PROCEEDINGS OF THE IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON INDUSTRIAL ELECTRONICS

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Measuring and modeling broadband magnetic losses versus temperature and aging effects in CoO-doped Mn-Zn ferrites / Tsakaloudi, V; Beatrice, C; Dobak, S; Fiorillo, F; Zaspalis, V. - (2020), pp. 1454-1458. 2020 Beatrice, CFiorillo, F + 222_Proc_IEEE_2020.pdfProc. IEEE 29th Int. Symp. Ind. Electronics (ISIE), Delft, 2020_preprint.pdf
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