METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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4-Nitrobenzene Grafted in Porous Silicon: Application to Optical Lithography / Tiddia, M.; Mula, G.; Sechi, E.; Vacca, A.; Cara, E.; DE LEO, Maria; Fretto, MATTEO ANDREA; Boarino, Luca. - In: NANOSCALE RESEARCH LETTERS. - ISSN 1556-276X. - 11:(2016). [10.1186/s11671-016-1654-8] 2016 Cara, E.DE LEO, MARIAFRETTO, MATTEO ANDREABOARINO, LUCA + -
Electrical Contacts on Silicon Nanowires Produced by Metal-Assisted Etching: a Comparative Approach / D'Ortenzi, L.; Monsu, R.; Cara, E.; Fretto, MATTEO ANDREA; Kara, S.; Rezvani, S. J.; Boarino, Luca. - In: NANOSCALE RESEARCH LETTERS. - ISSN 1556-276X. - 11:(2016). [10.1186/s11671-016-1689-x] 2016 Cara, E.FRETTO, MATTEO ANDREABOARINO, LUCA + -
Formation of nanostructured silicon surfaces by stain etching / Ayat, M.; Belhousse, S.; Boarino, Luca; Gabouze, N.; Boukherroub, R.; Kechouane, M.. - In: NANOSCALE RESEARCH LETTERS. - ISSN 1556-276X. - 9:(2014). [10.1186/1556-276X-9-482] 2014 BOARINO, LUCA + -
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