METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Kinetics of defect formation in chemically vapor deposited (CVD) graphene during laser irradiation: The case of Raman investigation / Amato, G.; Milano, G.; Vignolo, U.; Vittone, E.. - In: NANO RESEARCH. - ISSN 1998-0124. - 8:12(2015), pp. 3972-3981. [10.1007/s12274-015-0900-1] 2015 Amato G.Milano G.Vittone E. + Amato2015_Article_KineticsOfDefectFormationInChe.pdf; KINETICS OF DEFECT.pdf
Unveiling field-coupled nanocomputing: Leaning molecules to shape readable bits / Ardesi, Yuri; Beretta, Giuliana; Mo, Fabrizio; Spano, Chiara Elfi; Piccinini, Gianluca; Graziano, Mariagrazia. - In: NANO RESEARCH. - ISSN 1998-0124. - 17:9(2024), pp. 8447-8454. [10.1007/s12274-024-6811-2] 2024 Spano, Chiara Elfi + -
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