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Quantitative three-dimensional characterization of critical sizes of non-spherical TiO2 nanoparticles by using atomic force microscopy
2022 Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; bartolo picotto, Gian; Ribotta, Luigi
A sample scanning system with nanometric accuracy for quantitative SPM measurements
2001 Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Quantitative three-dimensional characterization of critical sizes of non-spherical TiO2 nanoparticles by using atomic force microscopy / Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; bartolo picotto, Gian; Ribotta, Luigi. - In: ULTRAMICROSCOPY. - ISSN 0304-3991. - (2022). [10.1016/j.ultramic.2022.113480] | 2022 | Luigi Ribotta + | 1-s2.0-S0304399122000171-main.pdf; ULTRAM-D-21-00168R1_post+print (1).pdf |
| A sample scanning system with nanometric accuracy for quantitative SPM measurements / Picotto, Gianbartolo; Pisani, Marco. - In: ULTRAMICROSCOPY. - ISSN 0304-3991. - 1:(2001), pp. 1-12. | 2001 | PICOTTO, GIANBARTOLOPISANI, MARCO | - |
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